Rasterelektronenmikroskopie

Unsere Dienstleistung unterstützt zum einen die F & E-Aktivitäten unserer Kunden basierend auf der analytischen Erfahrung der Mitarbeiter und der hoch-spezialisierten Ausstattung;  zum anderen umfasst sie die Ursachenforschung, um Gründe für Reklamationen abzuleiten.

Übersicht

  • SEI/BEI-Aufnahmen, Kristallorientierungskontrast

  • EDX: Punktanalysen, Hypermapping, Linescan, Partikelanalyse

  • Produktions- & Forschungsbegleitende Analytik

  • Quantitative und Qualitative Analyse (Reklamationen, Kontaminationen, ...)


Equipment-Highlights

1
Scanning Electron Microscope (JSM-6490LV Jeol))
2
Field Emission Scanning Electron Microscope (JSM 6700 F (Jeol))
3
Energiedispersive Analyse (EDX Quantax 400 (Bruker))
4
Lichtmikroskope (Polyvar, Stereomikroskop (Wild))
5
Poliermaschinen (Phoenix 4000 (Buehler))
6
Vibrationspoliermaschine (VibroMet 2 (Buehler))
7
Cross Section Polisher (CSP IB-09010CP (Jeol))
8
Sputtercoater (SCD 500 (Leica))
9
Kalorimeter (C 200 (IKA) - Brennwertbestimmung))
10
Dichtebestimmung (He-Pyknometer AccuPyc II 1340 (Micromeritics))

Weitere Details finden Sie in unserem Leistungsverzeichnis.

Impressionen

HGP 1930
HGP 4401