Spurenelementanalyse

Die Spurenelementanalyse erlaubt unseren Kunden, ihre Qualitätsansprüche zu überprüfen. Die Analytik mittels ICP OES und ICP MS ermöglicht es unseren Kunden, ihr Produktportfolio in Anwendungen mit sehr hohen Ansprüchen in Bezug auf Reinheit und Qualität zu erweitern.

Übersicht

  • Spurenanalytik in komplexen Matrices

  • Probenpräparation durch u.a. Säuredruckaufschluss, Mikrowellendruckaufschluss, Schmelzaufschluss

  • Moderne Analytik mittels ICP-OES, ICP-MS und AAS

  • Festkörperanalytik mittels GDMS, ETV-OES und AAS

Equipment-Highlights

1
TQ ICP-MS (8900 (Agilent))
2
HR ICP-MS (Element 2 (Thermo Fisher))
3
Q-ICP-MS (Icap Q (Thermo Fisher))
4
GDMS (VG 9000 (Thermo Fisher))
5
HR-ICP OES (PQ 9100, PQ 9000 (Analytik Jena)), (Ultima 2 (Horiba Jobin Yvon))
6
ICP OES (725-ES (Agilent))
7
AAS (ContrAA 700 +solid AA (Analytik Jena))
8
AFS (Mercur (Analytik Jena))
9
ETV-OES (ETV 4000 (Spectral Systems), Arcos (Spectro))

Weitere Details finden Sie in unserem Leistungsverzeichnis.

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Impressionen

HGP 4527
HGP 4511