Spurenelementanalyse
Die Spurenelementanalyse erlaubt unseren Kunden, ihre Qualitätsansprüche zu überprüfen. Die Analytik mittels ICP OES und ICP MS ermöglicht es unseren Kunden, ihr Produktportfolio in Anwendungen mit sehr hohen Ansprüchen in Bezug auf Reinheit und Qualität zu erweitern.
Übersicht
Spurenanalytik in komplexen Matrices
Probenpräparation durch u.a. Säuredruckaufschluss, Mikrowellendruckaufschluss, Schmelzaufschluss
Moderne Analytik mittels ICP-OES, ICP-MS und AAS
Festkörperanalytik mittels GDMS, ETV-OES und AAS
Equipment-Highlights
| 1 |
TQ ICP-MS (8900 (Agilent)) |
| 2 |
HR ICP-MS (Element 2 (Thermo Fisher)) |
| 3 |
Q-ICP-MS (Icap Q (Thermo Fisher)) |
| 4 |
GDMS (VG 9000 (Thermo Fisher)) |
| 5 |
HR-ICP OES (PQ 9100, PQ 9000 (Analytik Jena)), (Ultima 2 (Horiba Jobin Yvon)) |
| 6 |
ICP OES (725-ES (Agilent)) |
| 7 |
AAS (ContrAA 700 +solid AA (Analytik Jena)) |
| 8 |
AFS (Mercur (Analytik Jena)) |
| 9 |
ETV-OES (ETV 4000 (Spectral Systems), Arcos (Spectro)) |
